Детальная информация

Суворов, Эрнест Витальевич. Дифракционный структурный анализ: учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., пер. и доп. — Электрон. дан. — Москва: Юрайт, 2023. — 309 с. — (Высшее образование). — URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.01.2023). — Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. — <URL:https://urait.ru/bcode/517418>.

Дата создания записи: 24.09.2021

Тематика: Физика; Естественные науки; Дифракционный структурный анализ; Оптика; Оптические измерения; Основы оптики; Основы рентгеновской дифрактометрии; Методы исследования материалов и композитов; Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей; Рентгеноструктурный анализ наноматериалов; Дифракционные и микроскопические методы; Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур; Физика дифракции; Структурный анализ и моделирование систем; Рентгеновские методы; Рентгеновские методы исследования материалов; Основы структурного анализа; Современные методы магнитного резонанса; Структурный анализ; Методы структурного анализа материалов и контроля качества; Методы рентгеновской визуализации; Дифракционные методы исследования структуры; Рентгенография и рентгеноструктурный анализ; Специальные методы структурного анализа; Рентгеноструктурный анализ материалов; Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов; Дифракционные методы исследования вещества; Современные методы структурного анализа; Рентгеноструктурный анализ; Рентгеновские методы анализа; Методы структурного анализа материалов; Техника рентгеноструктурного анализа; Дифракционные методы; Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов; Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии; Методы структурного анализа; Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов

УДК: 539.26(075.8)

ББК: 22.343.4я73

Коллекции: Электронные книги издательства Юрайт

Разрешенные действия: Посмотреть

Аннотация

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Статистика использования

stat Количество обращений: 4
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика